<?xml version="1.0" encoding="UTF-8"?>
<!DOCTYPE article PUBLIC "-//NLM//DTD JATS (Z39.96) Journal Publishing DTD v1.3 20210610//EN" "JATS-journalpublishing1-3.dtd">
<article article-type="research-article" dtd-version="1.3" xmlns:mml="http://www.w3.org/1998/Math/MathML" xmlns:xlink="http://www.w3.org/1999/xlink" xmlns:xsi="http://www.w3.org/2001/XMLSchema-instance" xml:lang="ru"><front><journal-meta><journal-id journal-id-type="publisher-id">nuc</journal-id><journal-title-group><journal-title xml:lang="ru">Вестник НЯЦ РК</journal-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>NNC RK Bulletin</trans-title></trans-title-group></journal-title-group><issn pub-type="ppub">1729-7516</issn><issn pub-type="epub">1729-7885</issn><publisher><publisher-name>Национальный ядерный центр Республики Казахстан</publisher-name></publisher></journal-meta><article-meta><article-id pub-id-type="doi">10.52676/1729-7885-2019-4-119-125</article-id><article-id custom-type="elpub" pub-id-type="custom">nuc-208</article-id><article-categories><subj-group subj-group-type="heading"><subject>Research Article</subject></subj-group><subj-group subj-group-type="section-heading" xml:lang="ru"><subject>Статьи</subject></subj-group></article-categories><title-group><article-title>НЕКОТОРЫЕ АСПЕКТЫ МЕТОДИКИ РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО ФАЗОВОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ НА ДИФРАКТОМЕТРЕ EMPYREAN</article-title><trans-title-group xml:lang="en"><trans-title>SOME ASPECTS OF X-RAY PHASE ANALYSIS METHODS FOR SAMPLES USING AN EMPYREAN DIFFRACTOMETER</trans-title></trans-title-group></title-group><contrib-group><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Букина</surname><given-names>О. С.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Bukina</surname><given-names>O. S.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Курчатов</p><p>Барнаул</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Kurchatov</p><p>Barnaul</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-1"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Кукушкин</surname><given-names>И. М.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Kukushkin</surname><given-names>I. M.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Курчатов</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Kurchatov</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib><contrib contrib-type="author" corresp="yes"><name-alternatives><name name-style="eastern" xml:lang="ru"><surname>Семенина</surname><given-names>А. В.</given-names></name><name name-style="western" xml:lang="en"><surname>Semenina</surname><given-names>A. V.</given-names></name></name-alternatives><bio xml:lang="ru"><p>Курчатов</p></bio><bio xml:lang="en"><p>Kurchatov</p></bio><xref ref-type="aff" rid="aff-2"/></contrib></contrib-group><aff-alternatives id="aff-1"><aff xml:lang="ru">Филиал «Институт атомной энергии» РГП НЯЦ РК; ФГБОУ ВО «Алтайский государственный технический университет им. И.И. Ползунова»<country>Казахстан</country></aff><aff xml:lang="en">Branch “Institute of Atomic Energy” RSE NNC RK; Federal State Budget Educational Institution of Higher Education&#13;
“Polzunov Altai State Technical University”<country>Kazakhstan</country></aff></aff-alternatives><aff-alternatives id="aff-2"><aff xml:lang="ru">Филиал «Институт атомной энергии» РГП НЯЦ РК<country>Казахстан</country></aff><aff xml:lang="en">Branch “Institute of Atomic Energy” RSE NNC RK<country>Kazakhstan</country></aff></aff-alternatives><pub-date pub-type="collection"><year>2019</year></pub-date><pub-date pub-type="epub"><day>30</day><month>12</month><year>2019</year></pub-date><volume>1</volume><issue>4</issue><fpage>119</fpage><lpage>125</lpage><permissions><copyright-statement>Copyright &amp;#x00A9; Букина О.С., Кукушкин И.М., Семенина А.В., 2019</copyright-statement><copyright-year>2019</copyright-year><copyright-holder xml:lang="ru">Букина О.С., Кукушкин И.М., Семенина А.В.</copyright-holder><copyright-holder xml:lang="en">Bukina O.S., Kukushkin I.M., Semenina A.V.</copyright-holder><license xml:lang="ru" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.</license-p></license><license xml:lang="en" license-type="creative-commons-attribution" xlink:href="https://creativecommons.org/licenses/by/4.0/" xlink:type="simple"><license-p>This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.</license-p></license></permissions><self-uri xlink:href="https://journals.nnc.kz/jour/article/view/208">https://journals.nnc.kz/jour/article/view/208</self-uri><abstract><p>С 2015 года рентгеноструктурные исследования в Институте атомной энергии проводятся на современном рентгеновском дифрактометре «Empyrean» фирмы Panalytical. «Empyrean» – уникальный по своим возможностям рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения, который сочетает возможности классического порошкового и исследовательского дифрактометра. Ряд работ по бюджетным программам, коммерческим и грантовым проектам включает в себя проведение рентгеноструктурных исследований. В каждой работе образцы имеют характерные особенности (геометрические размеры, толщина, радиоактивность материала и пр.), которые необходимо учитывать при съемке дифрактограмм. Важно обеспечить воспроизводимость дифрактограмм для нескольких образцов, простоту способа пробоподготовки, приемлемость для работы с точки зрения радиационной безопасности. Для обеспечения составляющих качества дифрактограмм, а также в целях экономии ресурса рентгеновской трубки необходимо стремиться к тому, чтобы получать необходимую информацию по минимальному количеству дифрактограмм. В статье представлена часть методики рентгенофазового анализа, которая успешно применяется при исследованиях конструкционных и топливных материалов.</p></abstract><trans-abstract xml:lang="en"><p>Since 2015, X-ray diffraction studies at the Institute of Atomic Energy have been carried out on a modern Panalytical Empyrean X-ray diffractometer. Empyrean is a unique X-ray diffractometer with a vertically positioned high-resolution goniometer, which combines capabilities of a classic powder and research diffractometer. A number of works on budget programs, commercial and grant projects include x-ray structural studies. In each work, samples have typical features (geometric dimensions, thickness, radioactivity of the material, etc.), which should be taken into account when shooting diffraction patterns. It is important to ensure precision of diffraction patterns for several samples, simplicity of the sample preparation method, and acceptability to work from the point of view of radiation safety. To ensure the quality components of the diffraction patterns, as well as to save the life of the X-ray tube, it is necessary to strive to obtain the required information on the minimum number of diffraction patterns. The paper presents part of x-ray phase analysis method, which is successfully used in the study of structural and fuel materials.</p></trans-abstract></article-meta></front><back><ref-list><title>References</title><ref id="cit1"><label>1</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Головкин, Б.Г. Фазовый анализ. Методы. Практика применения / Б.Г. Головкин - [Электронный ресурс].– Режим доступа: https://www.researchgate.net/publication/322223274_Fazovyj_analiz_Metody_Praktika_primenenia (05.11.2019).</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Головкин, Б.Г. Фазовый анализ. Методы. Практика применения / Б.Г. Головкин - [Электронный ресурс].– Режим доступа: https://www.researchgate.net/publication/322223274_Fazovyj_analiz_Metody_Praktika_primenenia (05.11.2019).</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit2"><label>2</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">XRD Sample Holders &amp; Preparation. User's Guide. – Сентябрь 2007. – Кодовый номер заказа: 4022 339 11401.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">XRD Sample Holders &amp; Preparation. User's Guide. – Сентябрь 2007. – Кодовый номер заказа: 4022 339 11401.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit3"><label>3</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Иванов А.Н. Дифракционные методы исследования материалов: конспект лекций по спецкурсу «Физика металлов» / А.Н. Иванов. – М.: МИСиС, 2008.– 99 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Иванов А.Н. Дифракционные методы исследования материалов: конспект лекций по спецкурсу «Физика металлов» / А.Н. Иванов. – М.: МИСиС, 2008.– 99 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit4"><label>4</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Рентгеноспектральный справочник / М.А. Блохин, И.Г. Швейцер. – М.: Наука, 1982.– 374 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Рентгеноспектральный справочник / М.А. Блохин, И.Г. Швейцер. – М.: Наука, 1982.– 374 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit5"><label>5</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / В.И. Лисойван, С.А. Громилов.– Новосибирск: Наука, 1989.– 243 с.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Аспекты точности в дифрактометрии поликристаллов / В.И. Лисойван, С.А. Громилов.– Новосибирск: Наука, 1989.– 243 с.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit6"><label>6</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Empyrean: руководство пользователя. – Октябрь 2010.– Кодовый номер заказа: 4022 339 16621.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Empyrean: руководство пользователя. – Октябрь 2010.– Кодовый номер заказа: 4022 339 16621.</mixed-citation></citation-alternatives></ref><ref id="cit7"><label>7</label><citation-alternatives><mixed-citation xml:lang="ru">Crystallography Open Database – an open-access collection of crystal structures // S. Gražulis, D. Chateigner, R. T. Downs, A. F. T. Yokochi, M Quirós, L. Lutterotti, E. Manakova, J. Butkus, P. Moeck &amp; A. Le Bail // J. Appl. Cryst., 2009.– 42.– 726–729.</mixed-citation><mixed-citation xml:lang="en">Crystallography Open Database – an open-access collection of crystal structures // S. Gražulis, D. Chateigner, R. T. Downs, A. F. T. Yokochi, M Quirós, L. Lutterotti, E. Manakova, J. Butkus, P. Moeck &amp; A. Le Bail // J. Appl. Cryst., 2009.– 42.– 726–729.</mixed-citation></citation-alternatives></ref></ref-list><fn-group><fn fn-type="conflict"><p>The authors declare that there are no conflicts of interest present.</p></fn></fn-group></back></article>
